TeleStar? Probe 是一種獨立的離軸部分相干干涉測量范圍傳感器，用于表面輪廓測量。TeleStar Probe 提供亞微米分辨率，在鏡面反射和光散射漫射表面上均具有出色的性能。該探頭快速準(zhǔn)確，每秒可快速掃描多達(dá) 500 個數(shù)據(jù)點，精度為 1.0 微米，重復(fù)性為 0.1 微米。

在 SmartScope ZIP 上，探頭可以固定安裝或安裝在機(jī)械部署機(jī)構(gòu)中，以便在不使用時將其收回。

此外，TeleStar Probe 可以配置在 FlexPoint 系統(tǒng)上的 VersaFlex? 鉸接式多傳感器陣列中，從而在 CMM 上實現(xiàn)先進(jìn)的干涉測量技術(shù)，這與業(yè)內(nèi)其他任何產(chǎn)品都不一樣。

P-25 TeleStar Probe 提供適用于不同應(yīng)用的可互換物鏡和高達(dá) 70 mm 的恒定工作距離。